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X熒光光譜儀的測試步驟有三,分別是?

發布時間:2020-10-19瀏覽:52

  X熒光光譜儀是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

  X熒光光譜儀技術的主要特征為:
  利用低能X光激發待測元素,對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率:具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;
  采用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一致性:
  利用解譜技術使譜峰分解,使分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度;采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

  使用壽命的技術:
  (1)、光管自動老化功能;
  (2)、自動跟進不同材質選擇不同的光管電流;
  (3)、強大的散熱系統保證光管正常的工作條件;
  模塊化的功能設計理念便于應對指令進行、檢測元素內容的升;*更為精巧的工藝,實現小體積樣品的檢測;
  全光路射線防護系統配合三重安全防護設計,同時采用軟硬件雙重安全連鎖,保輻射安全性能。

  X熒光光譜儀的測試步驟:
  (1)選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數法、半基本參數法、經驗系數法等,制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法,常用粉末壓片法制樣,采用基本參數法測試。

  (2)將制備好的樣片裝進樣品杯,放入樣品交換器中,自動進樣至樣品室,X射線管發出原級X射線照射樣品,激發出待測元素的熒光X射線。

  (3)樣品輻射出的熒光X射線通過分光晶體,將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線,由探測器測量各譜線的強度,根據選用的分析方法換算成元素濃度,得到樣品中待測元素含量。

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