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微區X射線熒光光譜儀特征譜線的產生則是基于不同的機理

發布時間:2020-11-16瀏覽:19

  微區X射線熒光光譜儀是X射線光管發出的初級X射線照射樣品,樣品中原子的內層電子被激發,當外層電子躍遷時產生特征X射線,通過分析樣品中不同元素產生的特征熒光X射線波長(或能量)和強度,可以獲得樣品中的元素組成與含量信息,達到定性定量分析的目的。

  微區X射線熒光光譜儀特征譜線的產生則是基于不同的機理:
  a)入射X射線轟擊原子的內層電子,如果能量大于它的吸收邊,該內層電子被驅逐出整個原子(整個原子處于高能態,即激發態)。

  b)較高能級的電子躍遷,補充空穴,整個原子回到低能態,即基態。

  c)由高能態轉化為低能態,釋放能量。ΔE=Eh-El

  d)能量如果以X射線的形式釋放,則會產生X射線熒光。

  特點:
  分析的元素范圍廣,從4Be到92U均可測定;

  熒光X射線譜線簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡便;

  分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級,輕元素稍差;

  分析樣品不被破壞,分析快速,準確,便于自動化。

  微區X射線熒光光譜儀的產品應用特點:
  1、X射線熒光原理,無損、快速、準確的檢測和鑒定材料成分;

  2、銅材、鋼材、鋁合金等1個數據庫全部搞定;

  3、FlexFP新技術的應用,無標樣既能分析未樣品;

  4、高分辨率探測器,能夠檢測到幾十ppm的元素含量;

  5、固體、粉末、液體等樣品可直接測試;

  6、幾十秒可得出穩定準確的測試數據;

  7、測試過程簡單、輸出報告多種格式、查詢篩選統計功能齊全。

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