元素分析
表面分析
太陽能/半導體
通用儀器耗材
DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。
探針式輪廓儀是一種用于化學、材料科學、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器。分析樣品表面.....
薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實際上，薄膜的表面是不平整，不連續的，且薄膜內部.....
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