元素分析
表面分析
太陽能/半導體
通用儀器耗材
掃描速度快、分辨率高的的原子力顯微鏡Dimension FastScan
同類AFM中具有很低的噪音水平和很高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡(SPM)
MultiMode8采用結構緊湊的剛性設計,即使樣品的測試難度大
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