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微區X射線熒光光譜儀

更新時間:2020-08-12

產品品牌:Bruker

產品產地:

產品型號:M4 TORNADO

產品描述:微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。

微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
M4 TORNADO采用了技術,為各種用戶提供了佳的分析性能和方便的操控性。
·  采用多導毛細管聚焦鏡,照射光斑小,空間分辨率高。
·  渦輪增速X-Y-Z樣品臺,借助放大倍數可變的攝像系統獲得的樣品影像,可在“飛行中”進行元素分布分析。 
·  通過可選的雙X射線光管和多6個濾光片進行靈活的激發。
·  使用XFlash®探測器高速地獲取樣品圖譜,另外,使用多個探測器可以進一步提高測量速度。
·  基于無標樣分析法準確定量分析塊狀樣品,準確分析多層膜樣品。
·  具有便捷進樣功能的可抽真空的樣品室

 

行業應用:

1.地球科學(巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像、行掃描與相序分析。)

 


2.司法鑒定、法醫及痕量分析(對衣物上的彈孔進行射擊殘留物GSR分析)


3.藝術與考古(對文物進行顏料、色料的成分分析,修復文物)


4.質量控制與故障分析儀(電子和電子部件元素分析,ROHS分析)
5.發動機部件、電機/潤滑油(識別電機/潤滑油中的發動機磨損產物)
6.生命科學(檢查樹木橫斷面/葉子/樹根年輪)
7.材料科學(鋼材腐蝕檢驗)
8.環境科學(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)
9.過濾器上的薄膜(空氣濾膜)

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