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超輕元素微區X射線熒光成像光譜儀

更新時間:2020-08-12

產品品牌:Bruker

產品產地:

產品型號:M4 TORNADO PLUS

產品描述:M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。

M4 TORNADOPLUS - 微區X射線熒光成像的新紀元

M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。

作為微區X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產品,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,例如創新性的孔徑管理系統,高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺。

更輕、更快、更深

M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器(SDD)實現對輕元素碳的檢測,高通量脈沖可以大程度提升采樣速度,BRUKER孔徑管理系統(AMS)可以獲取大景深,對表面不平整樣品分析具有優勢。

超輕元素檢測

M4 TORNADOPLUS能夠檢測分析輕質元素碳的微區X射線熒光成像光譜儀,具備兩個具有超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器和一個優化的Rh靶X射線光管。

與普通微區X射線熒光成像光譜儀不同,M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內元素靈敏度的前提下,還可以檢測原子數小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。

隨著功能性的增強,M4 TORNADOPLUS應用也正在開發和拓展中,例如地質學、礦物學、生物學、聚合物研究或半導體行業等方向。

應用實例-螢石和方解石的區分

螢石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區別在于分別存在輕質元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微區X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z<11(Na)的元素,無法區分這兩種礦物,所以螢石和方解石的光譜圖上都只會顯示Ca元素譜線。

利用超輕元素探測器,M4 TORNADOPLUS可以檢測氟(F)、氧(O)和碳(C),從而鑒別這兩種礦物。

圖:鑒別螢石與方解石 

左:方解石(紅)和螢石(藍)的元素分布圖;圖像尺寸:20×12mm2;掃描分辨率:800×460pixels             

右:螢石(藍)和方解石(紅)的輕質元素光譜圖。

應用實例-電路板

由于AMS的場深度深,如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節。此外,由于激發X射線光子的入口和出口角度減小,光束能量依賴性變得不那么明顯。

圖:具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖

左圖: 標準多導毛細管聚焦在電路板上,元件的高點失焦,顯得模糊。

右圖: AMS系統加載下圖像顯示高景深,組件聚焦在更大的景深范圍內。

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