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探針式輪廓儀系統
新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dekt.....
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臺階儀-表面輪廓儀
德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量.....
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光學輪廓儀
ContourGT-X是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。
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3D掃描儀 MICRON3D green
同時碳纖維結構的耐受能力強，適用于寬廣的溫度范圍。
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薄膜厚度
薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實際上，薄膜的表面是不平整，不連續的，且薄膜內部.....
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反射膜厚儀
反射光譜干涉法是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。
